Materiały Konferencyjne PPM 2013
Do rozpoczęcia zostało już tylko:
0
DNI
:
0
GODZIN
:
0
MINUT
0
DNI
0
GODZIN
0
MINUT
-
01
Paweł Rosner, Władysław Jakubiec
Analiza metod szacowania niepewności pomiaru - 02
- 03
-
04
Michał Urbański
Własności porządków w reprezentacji pomiarów a niepewność pomiaru -
05
Grzegorz Smołalski
Rozkłady prawdopodobieństwa o ograniczonym nośniku - przykłady zastosowań w metrologii i wybrane następstwa teoretyczne Wyświetl -
06
Krystian Krawczyk, Michał Lisowski, Bartłomiej Kocjan, Edyta Dudek, Robert Jasiński, Lidia Snopek
New design of high resistance transfer devices and modernization of existing ones Wyświetl -
07
Bartłomiej Kocjan, Krystian Krawczyk, Michał Lisowski
Comparison of simulation results of computer analysis of guarded Hamon transfer devices with the results of experimental research Wyświetl -
08
Dorota Kołakowska, Krystian Krawczyk, Michał Lisowski, Marian Kampik, Marcin Orzepowski, Dorota Domańska Myśliwiec, Janusz Tokarski
Initial tests of an active arm bridge designed to compare high resistance standards Wyświetl -
09
Krzysztof Musioł, Marian Kampik, Michał Grzenik
Zależności przybliżone w ocenie spójności ilorazowych układów komparacji impedancji Wyświetl -
10
Krzysztof Musioł, Marian Kampik, Wojciech Barwinek
Wybrane implementacje metody trójkątów w komparacjach impedancji Wyświetl -
11
Mateusz Turkowski, Maciej Szudarek, Artur Szczecki
Metrology for pipelines transporting gaseous and liquid fuels Wyświetl -
12
Anna Piaskowy, Artur Skórkowski
Interpretacja i pomiar parametrów materiałów ferromagnetycznych stosowanych w transformatorach pomiarowych Wyświetl - 13
-
14
Piotr Szterk, Albin Czubla, Roman Osmyk, Przemysław Krehlik, Łukasz Śliwczyński
Precyzyjne dystrybutory sygnałów impulsowych Wyświetl -
15
Włodzimierz Filipowicz
From probability density to probability distribution with fuzzy sets -
16
Jerzy Szutkowski
Wpływ diodowych żarówek LED na błędy pomiaru energii elektrycznej czynnej. Czy domowe liczniki energii przekłamują pod wpływem obciążenia żarówkami LED - jaka jest prawda Wyświetl - 17
-
18
Adam Pilśniak, Grzegorz Zioło
Stanowisko do wyznaczania krzywych światłości źródeł światła LED Wyświetl -
19
Aleksandra Wiąckiewicz, Piotr Lewandowski, Przemysław Romanowski
Wzorcowanie refraktometrów przy użyciu ciekłych certyfikowanych materiałów odniesienia (CRM) -
20
Robert Kordulasiński, Marta Królewska, Bartosz Głowacz, Mateusz Suchanek, Winicjusz Filipow
Aparatura do precyzyjnej kontroli oddechu pacjenta z systemem dozowania optycznie spolaryzowanego 3He -
21
Dariusz Siemiaszko, Dorota Kamińska
Innowacyjny analizator mini 3D - nowa metoda trójwymiarowego pomiaru cząstek Wyświetl -
22
Grzegorz Śmigielski, Krzysztof Tyszczuk, Marek Macko
Rozdrabniacz wielotarczowy z pomiarem wielkości rozdrobnionych cząstek Wyświetl -
23
Jakub Wildner, Arkadiusz Zadworny, Maciej Szudarek, Artur Szczecki
Nowa metoda wzorcowania stanowisk z kontrolnymi zbiornikami dzwonowymi -
24
Mariusz Wiśniewski, Dariusz Czułek, Robert Szumski
Podsumowanie projektu EMRP IND53 Luminar Large Volume Metrology in Industry Wyświetl -
25
Danuta Dobrowolska, Joanna Kolasa
Działalność Głównego Urzędu Miar w dziedzinie akustyki i drgań na tle potrzeb społecznych i gospodarczych polski Wyświetl - 26
-
27
Sławomir Pochwała, Mariusz Rząsa, Marcin Olejnik
Sposób wyznaczenia współczynnika COP dla układu chłodniczego Wyświetl - 28
- 29
- 30
-
31
Damian Gonscz
Laboratory stand for the analysis of disturbances in the car electrical circuits Wyświetl -
32
Marcin Wojciechowski
Metrologia fal z zakresu THz - 33
-
34
Marcin Wojciechowski
Wzorcowa sieć sztuczna do pomiarów emisji przewodzonej urządzeń dużej mocy prądu stałego -
35
Wiesław Gosk
Weryfikacja wpływu porównań prowadzonych w warunkach zrównoważonego eksperymentu wewnątrzlaboratoryjnego na CMC laboratorium wzorcującego Wyświetl -
36
Jacek Puchalski, Paweł Fotowicz
Propagacja niepewności przy wyznaczaniu obszaru rozszerzenia trójwymiarowego menzurandu wektorowego Wyświetl -
37
Grzegorz Sadkowski
Wzorcowanie mostków do pomiaru błędów przekładników prądowych i napięciowych za pomocą systemu próbkującego Wyświetl - 38
-
39
Marian Kampik, Michał Grzenik, Krzysztof Musioł
Międzylaboratoryjne porównanie termicznych wzorców napięcia przemiennego Wyświetl -
40
Wacław Groszewski, Marian Kampik
Pomiary parametrów środowiskowych i automatyzacja procesów we współczesnym centrum przetwarzania danych -
41
Maciej Koszarny, Jolanta Jursza, Jerzy Szutkowski, Robert Jasiński
Kondensator wzorcowy 10 nF z dielektrykiem ceramicznym Wyświetl -
42
Artur Skórkowski, Anna Piaskowy
Analiza poprawności wskazań elektronicznych liczników energii elektrycznej Wyświetl -
43
Sebastian Barwinek, Adam Cichy, Artur Skórkowski
Analiza właściwości przesuwników fazowych w układach quasi-zrównoważonych Wyświetl - 44
-
45
Andrzej Tomaszewski
Wprowadzanie nowej metody wzorcowania obciążeń przekładników prądowych i napięciowych Wyświetl - 46
-
47
Maciej Malinowski, Marian Kampik, Krzysztof Kubiczek, Michał Grzenik, Kordian Dudzik
Uproszczony model matematyczny szerokopasmowego bocznika prądowego -
48
Zygmunt Warsza
Zastosowanie metody wektorowej do opisu niepewności systemów wieloparametrowych -
49
Zygmunt Warsza
Ocena niepewności pomiarów pośrednich trwale skojarzonych parametrów na przykładzie dwu układow trójelementowych: R||C+R oraz gwiazdy rezystancji -
50
Wojciech Barwinek, Marian Kampik, Krzysztof Musioł
Pomiary zespolonego stosunku napięć sinusoidalnych z wykorzystaniem asynchronicznej metody próbkowania Wyświetl -
51
Agnieszka Banaszak, Elżbieta Kowalska
Wykorzystanie świadectw wzorcowania laboratorium wzorcującego w laboratorium badawczym -
52
Dorota Kołakowska, Edyta Grabacka, Marek Michalski
Możliwości pomiarowe Laboratorium SONEL S.A. Wyświetl -
53
Dariusz Czułek
Projekty strategiczne samodzielnego Laboratorium Długości Głównego Urzędu Miar Wyświetl -
54
Ewa Malejczyk
Certyfikacja materiałów odniesienia zgodnie z zaleceniami przewodnika ISO 35 na przykładzie wybranego ciekłego wzorca gęstości Wyświetl -
55
Michał Solecki, Tadeusz Szumiata
Automatyzacja procesu wzorcowania wzorców masy i odważników oraz jej wpływ na poprawę parametru powtarzalności komparatorów masy