Tematyka konferencji obejmuje podstawowe, wspólne dla wszystkich pomiarów, zagadnienia metrologiczne: techniczne, technologiczne, teoretyczne, dydaktyczne oraz organizacyjno – prawne. Do wzięcia udziału w konferencji zaproszone są osoby, dla których tematyka nowoczesnej metrologii jest ważna: pracownicy przemysłu, zajmujący się metrologią przemysłowych procesów produkcyjnych, pracownicy służby miar, laboratoriów badawczych i wzorcujących, pracownicy ośrodków badawczych i uczelni. Szczególnie oczekiwane są prace dotyczące bazy metrologicznej dla innowacyjnych technologii przemysłowych i badań naukowych.