Wydawnictwo PAK Agenda SIMP
Politechnika Opolska, Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki
5.06.2016 - 8.06.2016, Centrum Kongresów i Rekreacji "Orle Gniazdo" w Szczyrku
Patronat sprawują:
Ministerstwo Przemysłu
Polskie Centrum Akredytacji
Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Komisja Metrologii PAN (Oddział w Katowicach)
Miesięcznik Measurement Automation Monitoring - MAM
Główny Urząd Miar
Prof. dr hab. inż. Marek Tukiendorf - Rektor Politechniki Opolskiej
Lucyna Olborska - Dyrektor Polskiego Centrum Akredytacji
Dr. Franz Josef Ahlers, PTB, RFN
Dr. Ralf Behr, PTB, RFN
Dr. Helko van den Brom, VSL, Holandia
Dr. Luca Callegaro, INRIM, Włochy
Prof. Milan Dado, Uniwersytet w Żylinie, Słowacja
Prof. Anna Domańska, Politechnika Poznańska
Prof. Mykhaylo Dorozhovets, Politechnika Rzeszowska
Prof. Krzysztof Gniotek (przewodniczący)
Prof. Ryszard Jachowicz, Politechnika Warszawska
Prof. Jerzy Jakubiec, Politechnika Śląska
Prof. Orest Ivachiv, Ukraina
Dr. Blaise Jeanneret, METAS, Szwajcaria
Prof. Marian Kampik, Politechnika Śląska
Prof. Adam Kowalczyk, Politechnika Rzeszowska
Prof. Stefan Kozak, Słowacja
Prof. Stefan Kubisa, Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny
Prof. Zygmunt Kuźmierek, Politechnika Łódzka
Dr. Hector Laiz, INTI, Argentyna
Prof. Michał Lisowski, Politechnika Wrocławska
Prof. Wiesław Miczulski, Uniwersytet Zielonogórski
Prof. Marian Miłek, Uniwersytet Zielonogórski
Prof. Waldemar Minkina, Politechnika Częstochowska
Prof. Waldemar Nawrocki, Politechnika Poznańska
Dr. Luis Palafox, PTB, RFN
Prof. Tadeusz Skubis, Politechnika Śląska
Prof. Lesław Topór-Kamiński, Politechnika Śląska
Prof. Michał Urbański, Politechnika Warszawska
Prof. Eugenij Volodarski, Ukraina
Prof. Wiesław Winiecki, Politechnika Warszawska
Prof. Maria Wrzuszczak, Politechnika Opolska (w-ce przewodnicząca)
Prof. Jan Zakrzewski, Politechnika Śląska
Prof. Andrzej Zięba, Akademia Górniczo-Hutnicza
Mgr inż Sebastian Barwinek
Prof. Sebastian Borucki (przewodniczący)
Prof. Andrzej Cichoń
Dr Michał Grzenik
Prof. Marian Kampik
Dr Krzysztof Musioł
Dr Anna Piaskowy
Mgr Agnieszka Skórkowska
Dr Artur Skórkowski
Prof. Tadeusz Skubis
Mgr inż. Marek Wymysło
Tematyka konferencji obejmuje podstawowe problemy metrologii: teoretyczne, techniczne, technologiczne, organizacyjne i prawne, wspólne dla wszystkich pomiarów, a także zagadnienia wzorców, w tym kwantowych, podstawowych wielkości fizycznych.
Konferencja będzie forum wymiany doświadczeń i wyników badań dotyczących podstawowych problemów metrologii, w tym także dotyczących podstawowych wielkości fizycznych.
Do udziału w konferencji są zaproszeni zwłaszcza metrolodzy - praktycy, pracujący w laboratoriach badawczych i wzorcujących, pracownicy pionów badawczych, pracownicy wyższych uczelni nauczający metrologii, a także wszyscy ci, dla których pomiary o wysokiej dokładności mają duże znaczenie. Zwłaszcza oczekiwane są prace dotyczące metrologicznych podstaw innowacji, innowacyjnych technologii i zaawansowanych bada naukowych.