Konferencja PPM

    Konferencja Naukowo-Techniczna PPM (Podstawowe Problemy Metrologii, Problems and Progress In Metrology) od wielu lat pełni istotną rolę w integracji środowiska metrologicznego: praktyków z przemysłu i laboratoriów akredytowanych, służby miar oraz uczelni wyższych. Konferencja koncentruje się na zagadnieniach podstawowych, wspólnych dla wszystkich rodzajów pomiarów. Głównym celem Konferencji jest wymiana poglądów i rozwój współpracy między środowiskiem metrologów akademickich i metrologów praktyków, skupionych w krajowej służbie miar oraz w laboratoriach akredytowanych.

    Tematyka Konferencji dotyczy podstawowych, wspólnych dla wszystkich pomiarów, zagadnień metrologicznych: technicznych, technologicznych, teoretycznych, dydaktycznych oraz organizacyjno – prawnych. W szczególności tematyka ta obejmuje m. in. podstawowe zagadnienia teorii pomiaru, metodykę oceny niedokładności, w tym problemy szacowania niepewności wyniku pomiaru, zagadnienia teorii, konstrukcji i badania systemów pomiarowych, problematyki wzorców i spójności pomiarowej, techniki pomiarów dokładnych, przetwarzania sygnałów pomiarowych, nowe koncepcje projektowania i budowy aparatury pomiarowej, zastosowanie narzędzi informatycznych w aparaturze i systemach pomiarowych, pomiary dynamiczne, organizację i akredytację laboratoriów oraz problemy metrologicznego wsparcia innowacji przemysłowych i eksperymentalnych badań naukowych.

    Rdzeniem tematycznym konferencji PPM są specjalistyczne zagadnienia doskonalenia konstrukcji wzorców, metod i technik ich sprawdzania, metody szacowania niepewności, rozwój układów pomiarowych o najwyższych wymaganiach metrologicznych, oraz zagadnienia akredytacji laboratoriów pomiarowych, badawczych i wzorcujących. Tematyka ta przeplata się z zagadnieniami informatyzacji systemów pomiarowych, bezprzewodowej transmisji danych pomiarowych, cyfrowego przetwarzania sygnałów. Są także prezentowane aktualne szczegółowe zagadnienia z obszaru narzędzi pomiarowych, zwłaszcza o małej niedokładności, oraz problemy związane z doskonaleniem laboratoriów badawczych i wzorcujących, których w kraju stale przybywa. Ich poziom i możliwości techniczne poprawiają się, a elementem doskonalenia kadry jest właśnie udział w konferencjach specjalistycznych.

    W konferencjach PPM uczestniczą specjaliści – metrolodzy z Polski i zagranicy, o wysokim uznanym autorytecie naukowym w dziedzinie metrologii.

   Organizatorem poprzednich edycji Konferencji było Wydawnictwo PAK, Agenda SIMP, Politechnika Opolska, Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki oraz Katedra Metrologii, Elektroniki Automatyki na Wydziale Elektrycznym Politechniki Śląskiej w Gliwicach.

    Materiały konferencyjne wszystkich dotychczasowych konferencji PPM były wydane przez Komisję Metrologii PAN (Oddz. Katowice), jako prace tej Komisji (Seria: Konferencje, nr 1 (1998), 4 (2001), 5 (2003), 8 (2005), 11 (2006), 12 (2008), 14 (2009), 15 (2011), 16 (2012), 19 (2014), 20 (2015), 21 (2016), 22 (2018). Poszczególne edycje konferencji miały patronat Komisji Metrologii PAN (Oddz. Katowice), Głównego Urzędu Miar, Ministerstwa Gospodarki, Polskiego Centrum Akredytacji. Prace prezentowane na konferencjach i opublikowane w ich materiałach są cytowane w literaturze, a wiele z nich było podstawą opublikowania artykułów naukowych w czasopismach o wysokiej randze.